电池片正面检测系统
正面印刷, 彩色 和 SiNx 薄膜厚度:

ATM正面-彩色和SiNx薄膜检测系统使用快速、无接触技术，设备小巧且易操作；用于太阳能电池片生产过程中的缺陷检测。

缺陷类型:

- V型缺口(宽度和深度)
- 边缘缺陷(崩边-宽度和长度)
- 最小副栅断栅长度
- 最小副栅宽度
- 脏污(宽度和长度)
- 电池片尺寸
- 电池片边缘正交
- 印刷位置
- 印刷旋转
- 印刷尺寸
- 副栅断栅长度
- 副栅宽度(平均值)
- 副栅间距(平均值
- 主栅宽度(平均值)
- SiN薄膜厚度(平均值)
- SiN薄膜颜色(平均值)
- SiN薄膜
- 颜色不均(平均值)
- 色彩的deltaE值偏向参考值
- 脏污
- 亮度(LAB彩色参考的L值)
- 中等或偏暗的亮度级别

特点:

• 产能: 3600片/小时
• 无接触
• 小巧且易操作
• LED 灯
• SHR相机-1600万百像素 或 2500万像素
• 局域网工具
• 远程控制
• 智能软件
• 与主控电脑相连
• 更多功能