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电池片正面检测系统正面彩色和SiNx薄膜厚度:
ATM正面-彩色和SiNx薄膜检测系统使用快速、无接触技术,设备小巧且易操作;用于太阳能电池片生产过程中的缺陷检测。
缺陷类型:
- 电池片尺寸- 电池片边缘正交- 印刷位置- 印刷旋转- 印刷尺寸- SiN薄膜厚度(平均值)- SiN薄膜颜色(平均值)- SiN薄膜- 颜色不均(平均值)- 色彩的deltaE值偏向参考值- 脏污- 亮度(LAB彩色参考的L值)- 中等或偏暗的亮度级别
特点: