ATMgroup

产品规格

光学和几何检测系统

产品编号: 02-0000-02-00

硅片光学和几何检测系统:

ATM光学和几何检测系统采用快速、无接触技术;设备小巧且易操作;用于太阳能硅片生产过程中的缺陷检测。

缺陷类型:

- 硅片几何
- 裂纹
- 脏污
- 穿孔
- 指纹
- 崩边
- v型缺口

特点:

  • 3600片/小时
  • 无接触
  • 小巧且易操作
  • SHR-相机
  • 局域网工具
  • 远程控制
  • 智能软件
  • 与主控电脑相连


硅片光学检测
:

产品编号: 02-0000-02-01
表面检测/ OWI-1
用于水渍、指纹、崩边和其它缺陷的检测

产品编号.: 02-0000-02-02
几何检测/ OWI-2
用于硅片几何尺寸、V形缺口、缺失、裂纹、穿孔和其它缺陷的检测


可选项

产品编号: 02-0000-02-003
几何和表面检测 / OWI- 1 und 2
用于用于水渍、指纹、几何、V形缺口、缺失、裂纹、穿孔、崩边

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