ISO 9001:2008 zertifizert
Gründerpreis 2008
15.05.2012
Introducing the new Black Label Inspection Technology
ATMvision präsentiert zur SNEC PV 2012 in Shanghai die neue Generation von Hochleistungsinspektionssystemen mit neuester Black Label-Technologie.
Die neuen hoch-präzisen Inspektionsmodule finden erstmals Einsatz bei der neuen Generation des Wafer Inspektionssystems (WIS) und dem grundlegend überarbeiteten Brick Inspektionssystem (BIS).
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Weitere Informationen über die neue Black Label Inspektionstechnologie finden Sie auf der Website unter Produkte > Solartechnologie oder Sie erhalten diese direkt von Ihrem Ansprechpartner bei ATMvision.